Atomic Force Microscopy: Introduction – Measurement in contact mode

In this short course you will learn more about the contact mode, which is the basic mode of an atomic force microscope and represents its original concept. You will see how the data acquisition works in this mode and how it reveals a sample’s topography and friction.  

Získejte volný přístup!

Vyplňte níže uvedený formulář pro získání volného přístupu k nástrojům a k obsahu na vyžádání.

Načítání...

Chyba