Atomic Force Microscopy: Introduction – Measurement in tapping mode

In this short course you will learn more about tapping mode, the most widely used mode for topographic imaging. You will learn why this mode is a so-called ‘non-contact’ mode, what its advantages are and why it is the prefect mode for sensitive samples. 

Získejte volný přístup!

Vyplňte níže uvedený formulář pro získání volného přístupu k nástrojům a k obsahu na vyžádání.

Načítání...

Chyba